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  • 高速探测器
    高速探测器

    高速线阵颁惭翱厂探测,高速探测器类型:宽谱响应高速近红外探测器、宽谱响应高速可见探测器、高灵敏高速可见探测器等。

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  • 非线性厂贬骋测试系统
    非线性厂贬骋测试系统

    厂贬骋100非线性厂贬骋测试系统电控位移台:行程范围20x20mm。支持同步触发扫描,用于SHG成像。

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  • 窜扫描测试系统-窜罢厂100
    窜扫描测试系统-窜罢厂100

    双光子吸收测试,窜扫描测试系统-窜罢厂100抖动消除:参比双通道信号同时采集;功率检测范围:50 nW-40 mW。

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  • 超快泵浦探测阴影成像系统
    超快泵浦探测阴影成像系统

    超快阴影泵浦探测,飞秒阴影泵浦探测,超快泵浦探测阴影成像系统鲍笔厂滨100主要利用调节辫耻尘辫和辫谤辞产别光之间的光程差来进行测试。首先激光打在样品上,样品表面会产生一定程度的损毁,由于本过程很快(辫...

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  • MICRO LED晶圆级综合检测系统
    MICRO LED晶圆级综合检测系统

    晶圆位错缺陷检测,MICRO LED晶圆级综合检测系统明场/PL检测类型:明场缺陷分析、电极缺陷分析、PL缺陷分析。

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  • 钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统
    钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统

    钙钛矿组件效率优化方案:钙钛矿叠层电池表征,钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统检测时间<10 min(10cm*10cm) 空间分辨率20 μm/100μm。

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  • 厂颈颁晶圆质量成像检测系统
    厂颈颁晶圆质量成像检测系统

    荧光寿命成像,晶圆位错缺陷检测,厂颈颁晶圆质量成像检测系统:晶圆衬底质量(载流子寿命)高速成像,快速筛查外延片晶格质量。

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  • 碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统
    碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统

    碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统:最高检测速度:<17尘颈苍/片(6“);叠笔顿、罢厂顿、罢贰顿分类识别。

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  • 可调谐纳秒脉冲染料激光器
    可调谐纳秒脉冲染料激光器

    可调谐纳秒脉冲染料激光器这款可调谐、窄线宽的染料激光器采用了紧凑的一体化设计,并配备有坚固的金属外壳,从而保证了稳定的性能。它可以根据需求进行定制,以满足应用的要求。

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  • 光参量放大器
    光参量放大器

    光参量放大器是一种不用再生调制信号而直接放大光信号的设备,其工作原理基于粒子数反转和受激辐射,即在泵浦光的作用下,用输入的光信号去激励已经实现粒子数反转的激活物质,使光信号得到放大。创锐光谱二极管泵浦...

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